Une sonde de champ proche pour caractériser les nano-objets
Les chercheurs de l’Institut Langevin « ondes et images » (CNRS/ESPCI Paristech) ont développé une nouvelle sonde de champ proche utilisant une nano-source fluorescente placée au bout d’une pointe qui peut être déplacée au voisinage d’un échantillon avec une précision nanométrique. Cette sonde permet d’enregistrer simultanément trois images : la topographie de l’échantillon, l’intensité de fluorescence et la durée de vie de fluorescence. Les informations complémentaires de ces trois images permettent de caractériser complètement un nano-objet comme une nano-antenne métallique.
Schéma de principe du montage expérimental et photographie prise au microscope montrant l’ombre de la pointe lors de la phase d’accrochage de la nano-source fluorescente. Vue d’artiste de la pointe et du nano-objet fluorescent au-dessus d’une nano-antenne métallique formée de trois plots d’or de 150 nm séparés de 50 nm.
Référence
Towards a full characterization of a plasmonic nanostructure with a fluorescent near-field probe”, V. Krachmalnicoff, A. Cazé, E. Castanié, R. Pierrat, N. Bardou, S. Collin, R. Carminati, Y. De Wilde, Optics Express Vol. 21 Issue 9, pp. 11536-11545 (2013).
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http://www.institut-langevin.espci.fr
