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[Innovation] Contrôler in situ le dépôt et le traitement de matériaux à l’échelle de la monocouche

par Clément Blondel - publié le

Détecter les contraintes et les défauts d’une couche mince de matériaux : le dispositif optique, développé au Laboratoire d’analyse et d’architecture des systèmes du CNRS (LAAS-CNRS) permet de mesurer en temps réel la courbure d’une surface déposée sur une couche mince de matériau. La société Riber a signé une licence d’exploitation de cette technologie. Un accompagnement réalisé également par la SATT Toulouse Tech Transfer (TTT).

Contact chercheur
Alexandre Arnoult, ingénieur CNRS au Laboratoire d’analyse et d’architecture des systèmes du CNRS (LAAS-CNRS)

Voir en ligne : Sur CNRS La lettre innovation