Journée Scientifique et inauguration des spectromètres XPS/ToF SIMS/LEIS couplés - DR18

28/05/2010 - Journée Scientifique et inauguration des spectromètres XPS/ToF SIMS/LEIS couplés - DR18

Le Pôle d'Analyse de Surfaces de la Fédération M.E. Chevreul a le plaisir de vous inviter à la journée inaugurale de ses nouveaux spectromètres XPS / ToF SIMS / LEIS couplés. Une journée scientifique pour l'inauguration de ces spectromètres est organisée le vendredi 11 juin 2010.

Annonce de la journée

Inscription

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