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Laboratoires communs

L’Institut d’électronique, de microélectronique et de nanotechnologie crée avec Horiba France une équipe mixte de recherche sur la caractérisation avancée des nanomatériaux

Après une première collaboration sur un projet de nouvelles sondes de microscopie à force atomique pour l’imagerie Raman exaltée par effet de pointe, les deux partenaires étendent leur partenariat à l'ensemble des domaines sur lesquels leurs expertises sont complémentaires.

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Depuis 2015, l’Institut d’électronique, de microélectronique et de nanotechnologie (IEMN)1,2 et Horiba France, fabricant de systèmes et composants de spectroscopie optique et d’analyses, ont engagé une collaboration (à travers un projet financé par une thèse Cifre) sur la conception, la fabrication et la caractérisation de nouvelles sondes de microscopie à force atomique pour les applications de spectroscopie Raman à l’échelle nanométrique. Ce partenariat va maintenant s'étendre et se structurer au sein d'une équipe mixte de recherche, créée pour une durée de trois ans dans le cadre de l’appel à projets « Equipes mixtes laboratoire-entreprise » du Programme opérationnel Feder 2014-2020 de la Région Hauts-de-France. Une dizaine de chercheurs et ingénieurs des deux partenaires seront impliqués dans ces travaux.

L'équipe mixte IEMN/Horiba développera des outils de caractérisation innovants, en concevant et fabriquant de nouvelles générations de sondes de microscopie champ proche par des techniques de micro et nano-fabrication. Un objectif à court terme sera de fournir des sondes fiables et performantes de microscopie à force atomique pour effectuer de la microscopie Raman à exaltation de pointe (TERS)3 dont Horiba est aujourd’hui le leader mondial. Les chercheurs travailleront également sur la caractérisation à l’échelle du nanomètre de propriétés physico-chimiques de matériaux nouveaux, par des techniques couplées entre spectroscopie Raman et microscopie optique en champ proche, microscopie à effet tunnel, et microscopie électronique à balayage.

 

1 Institut d’électronique, de microélectronique et de nanotechnologie (IEMN -CNRS/Université de Lille/Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis/École centrale Lille/Isen Lille)

2 Equipex ExCELSiOR

3 La technique exploitant l’effet d’exaltation de pointe ("Tip enhanced Raman spectroscopy" ou TERS) permet d’apporter à la spectroscopie Raman la résolution spatiale nanométrique des techniques de microscopie champ proche comme la microscopie à force atomique (AFM).

Contacts :

Thierry Mélin / Institut d’électronique, de microélectronique et de nanotechnologie / thierry.melin@iemn.fr

Marc Chaigneau / Horiba France / marc.chaigneau@horiba.com