Ce colloque organisé en
collaboration avec le GN-MEBA (Groupement national de microscopie
à balayage et de micro analyses), se tiendra du
22 au 26 juin 2009 à Paris. Soutenu par les
universités de Paris 6 et de Paris 7, l'Onera, le CEA
et le CNRS, ce congrès sera résolument tourné
vers les nouveaux développements technologiques, comme les
microscopies quantitatives, la microscopie corrigée des
aberrations, la spectroscopie de perte d'énergie, la
tomographie électronique, les microscopies
corrélatives et intégratives, les microscopies de
champ proche, ainsi que les nouvelles méthodes de
préparation (CEMOVIS, congélation sous haute pression
etc…).