La 13ème édition de cette conférence internationale, organisée par le groupe d'étude de la matière condensée (GEMaC), se déroulera du 5 au 9 juin 2016 à Versailles. Des scientifiques du monde entier présenteront leurs avancées en caractérisation physique des semiconducteurs par les techniques d'injection à base de faisceaux focalisés. Date limite d'inscription : 1er juin 2016.
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